30V 4A 30A Pulsbronmetingseenheid P100B Sourcemeter voor halfgeleiders   

De P100B Benchtop Pulse SourceMeter is een toekomstgericht hoogwaardig testinstrument dat is ontworpen om geavanceerde digitale signaalverwerking, intelligente besturing,en technologieën voor menselijke-machine-interactieHet combineert meting met hoge nauwkeurigheid, grote dynamische output en een gebruiksvriendelijke digitale touch operation.de P100B levert een maximale uitgangsspanning van 30 V en een gepulseerde stroom van 30 ADe P100B is een veelzijdig instrument voor het karakteriseren van moderne halfgeleiders, nanomaterialen,organische elektronica, gedrukte elektronica en andere kleine apparaten met een laag vermogen.

Productkenmerken

 Toonaangevende prestaties met geavanceerde technologie

▪Gebruikt digitale kalibratie, adaptieve filtering en hoge snelheid gegevensverwerking om toonaangevende precisie en dynamisch bereik te bereiken.

▪Maat ultralage stromen tot 1pA voor apparaten met een laag vermogen en levert stabiele 30A pulserende uitgangen voor componenten met een hoog vermogen.

▪Intelligente algoritmen zorgen voor nauwkeurige controle en minimale fouten tijdens het testen.

Intuïtieve slimme interactie

▪Een 5-inch touchscreen met een volledig grafische interface ondersteunt spraakopdrachten voor snelle installatie en gegevensverzoeken.

▪Aanpasbare interfaceplaatsen en snelkoppelingen passen zich aan de gebruikersgewoonten aan, waardoor de leercurve wordt verminderd en de efficiëntie wordt verhoogd.

Hoogprecise pulscontrole en innovatieve toepassingen

▪Bereikt een minimale pulsbreedte van 200 μs met geavanceerde circuits voor stabiele amplitude en timing.

▪Ondersteunt PWM (Pulse Width Modulation), PFM (Pulse Frequency Modulation) en aangepaste modulatiemodi voor draadloze communicatie, radarsystemen en andere geavanceerde toepassingen.

Adaptieve vierkwadrantenoperatie

▪Simulatie van elektrische omstandigheden in de echte wereld, met inbegrip van bidirectionele stroomvoorziening/sinking (bron/sink modes).

Innovatieve scanning en diepgaande gegevensanalyse

▪Dynamische sweepmodus: automatisch aanpassen van de scanparameters op basis van real-time gegevens voor adaptieve testen.

▪Gecorreleerde sweep-modus: stelt multi-parameter gezamenlijke testen mogelijk om verborgen gegevensrelaties te ontdekken.

▪De ingebouwde AI-analysemotor genereert voorspellende inzichten en professionele rapporten.

Efficiënt gegevensbeheer

▪USB-opslag en een-klik-rapporten genereren stroomlijnen het delen van gegevens.

▪Classificeert, archiveert, haalt en back-upt testgegevens voor eenvoudig beheer.

▪Dataoverdracht en -uitwisseling op afstand via netwerkinterfaces verbeteren de samenwerking in het team.

Open connectiviteit en ecosysteemintegratie

▪Uitgerust met RS-232, GPIB en LAN-interfaces voor naadloze integratie met geautomatiseerde testsystemen (ATE) en software van derden.

· Samenwerken met industriële partners om meettechnologieën en -toepassingen te bevorderen.

Productparameters

Toepassingen

Innovatie op het gebied van halfgeleidertechnologie

▪Testt 2D-materialen, quantumpunten en geavanceerde knoop-IC's voor lekstroom, drempelspanning en procesoptimalisatie.

▪Valideert SiC/GaN-apparaten onder hoge spanning/hoge temperatuuromstandigheden om de volgende generatie power electronics te versnellen.

Energie & Power Systems:Metingen van de efficiëntie van perovskiet-/organische zonnecellen en van de laad-/ontladingscycli van vaste batterijen/natriumionen.

Sensor:De elektrische prestaties van resistieve sensoren

Geavanceerd materiaalonderzoek

▪Analyseert nanocomposites, organische halfgeleiders en supergeleiders op elektrische, optische en multi-fysieke eigenschappen.

▪Voert doorbraken in flexibele elektronica, wearables en energieopslagtechnologieën.