logo
Goede prijs.  online

details van de producten

Created with Pixso. Huis Created with Pixso. Producten Created with Pixso.
Meerdere kanalen testapparatuur
Created with Pixso. Single Channel PXI SMU 30V 1A Sub Card DC Source Measurement Unit CS100

Single Channel PXI SMU 30V 1A Sub Card DC Source Measurement Unit CS100

Merknaam: PRECISE INSTRUMENT
Modelnummer: CS100
MOQ: 1 Eenheid
Leveringstermijn: 2-8 weken
Betalingsvoorwaarden: T/T
Gedetailleerde informatie
Plaats van herkomst:
Chinees
Aantal kanalen:
1 Kanalen
Spanningsbereik:
300 mV tot 30 V
Stroombereik:
100nA1A
Maximaal steekproefpercentage:
1000 S/s
Maximaal uitgangsvermogen:
30W ((DC)
Verpakking Details:
Doosje.
Levering vermogen:
500 SET/MONTH
Markeren:

Single Channel PXI SMU

,

PXI SMU 30V 1A

,

30V 1A gelijkstroombronmeeteenheid

Productbeschrijving

Single Channel PXI SMU 30V 1A Sub Card DC Source Measurement Unit CS100

De CS100 modulaire subkaart is een hoogwaardige testmodule die is ontworpen voor integratie met modulaire chassissystemen.het biedt efficiënte oplossingen voor complexe testscenario'sAls een kerncomponent van het test-ecosysteem werkt de CS100-subkaart samen met het hoofdchassis om zich aan te passen aan diverse industriële vereisten, van validatie van halfgeleiders tot industriële automatisering.


Productkenmerken

Hoogprecisie meting:Bereikt een nauwkeurigheid van 0,1% over volledige meetbereiken.

Snelle reactie:1 kS/s bemonsteringssnelheid zorgt voor real-time data-opname en -verwerking.

Flexible configuratieNaadloos geïntegreerd met andere subkaarten voor aangepaste testopstellingen.

Aanpassing van de trigger:Een flexibele configuratie van de kanaal-triggerbus maakt het mogelijk om verschillende testfuncties te combineren.

Eenvoudige integratie:Compact ontwerp compatibel met standaard 19-inch rekken voor een gestroomlijnde implementatie.

 

Productparameters

Artikel 2

Parameters

Aantal kanalen

1 kanaal

Spanningsbereik

300 mV tot 30 V

Minimumspanningsoplossing

30 uV

Stroombereik

100nA1A

Minimale huidige resolutie

10 pA

Maximaal uitgangsvermogen voor continue golven (CW)

30 W, 4-kwadrantbron of sinkmodus

Stabiel laadvermogen

< 22 nF

Breedbandgeluid (20MHz)

2mV RMS (typische waarde), < 20mV Vp-p (typische waarde)

Maximaal steekproefpercentage

1000 S/s

Meetsnauwkeurigheid van bron

0.10%

Hosts die het compatibel is met

1003C,1010C


Toepassingen

Test van halfgeleiders:Ondersteunt het testen van elektrische parameters (bijv. aanstollingsweerstand, lekstroom) voor chips en transistors, waardoor kwaliteitscontrole en prestatieoptimalisatie in O&O en productie mogelijk zijn.

Test van nieuwe energiebatterijen:Evalueren van lithium-ion/zonnebatterij prestatiemeters zoals laad-ontladingscycli, capaciteit en interne weerstand om de ontwikkeling van energieopslagtechnologie te versnellen.

Validering van elektronische componenten:Precise meting van passieve componenten (weerstanden, condensatoren, inductoren) om de naleving van industriële betrouwbaarheidstandaarden te waarborgen.

Academisch onderzoek:Dient als een modulair testplatform voor universiteiten en laboratoria in elektrotechniek en materiaalwetenschappen, waardoor geavanceerde experimenten in MEMS, flexibele elektronica en meer mogelijk worden gemaakt.

 

Goede prijs.  online

Details Van De Producten

Created with Pixso. Huis Created with Pixso. Producten Created with Pixso.
Meerdere kanalen testapparatuur
Created with Pixso. Single Channel PXI SMU 30V 1A Sub Card DC Source Measurement Unit CS100

Single Channel PXI SMU 30V 1A Sub Card DC Source Measurement Unit CS100

Merknaam: PRECISE INSTRUMENT
Modelnummer: CS100
MOQ: 1 Eenheid
Verpakking: Doosje.
Betalingsvoorwaarden: T/T
Gedetailleerde informatie
Plaats van herkomst:
Chinees
Merknaam:
PRECISE INSTRUMENT
Modelnummer:
CS100
Aantal kanalen:
1 Kanalen
Spanningsbereik:
300 mV tot 30 V
Stroombereik:
100nA1A
Maximaal steekproefpercentage:
1000 S/s
Maximaal uitgangsvermogen:
30W ((DC)
Min. bestelaantal:
1 Eenheid
Verpakking Details:
Doosje.
Levertijd:
2-8 weken
Betalingscondities:
T/T
Levering vermogen:
500 SET/MONTH
Markeren:

Single Channel PXI SMU

,

PXI SMU 30V 1A

,

30V 1A gelijkstroombronmeeteenheid

Productbeschrijving

Single Channel PXI SMU 30V 1A Sub Card DC Source Measurement Unit CS100

De CS100 modulaire subkaart is een hoogwaardige testmodule die is ontworpen voor integratie met modulaire chassissystemen.het biedt efficiënte oplossingen voor complexe testscenario'sAls een kerncomponent van het test-ecosysteem werkt de CS100-subkaart samen met het hoofdchassis om zich aan te passen aan diverse industriële vereisten, van validatie van halfgeleiders tot industriële automatisering.


Productkenmerken

Hoogprecisie meting:Bereikt een nauwkeurigheid van 0,1% over volledige meetbereiken.

Snelle reactie:1 kS/s bemonsteringssnelheid zorgt voor real-time data-opname en -verwerking.

Flexible configuratieNaadloos geïntegreerd met andere subkaarten voor aangepaste testopstellingen.

Aanpassing van de trigger:Een flexibele configuratie van de kanaal-triggerbus maakt het mogelijk om verschillende testfuncties te combineren.

Eenvoudige integratie:Compact ontwerp compatibel met standaard 19-inch rekken voor een gestroomlijnde implementatie.

 

Productparameters

Artikel 2

Parameters

Aantal kanalen

1 kanaal

Spanningsbereik

300 mV tot 30 V

Minimumspanningsoplossing

30 uV

Stroombereik

100nA1A

Minimale huidige resolutie

10 pA

Maximaal uitgangsvermogen voor continue golven (CW)

30 W, 4-kwadrantbron of sinkmodus

Stabiel laadvermogen

< 22 nF

Breedbandgeluid (20MHz)

2mV RMS (typische waarde), < 20mV Vp-p (typische waarde)

Maximaal steekproefpercentage

1000 S/s

Meetsnauwkeurigheid van bron

0.10%

Hosts die het compatibel is met

1003C,1010C


Toepassingen

Test van halfgeleiders:Ondersteunt het testen van elektrische parameters (bijv. aanstollingsweerstand, lekstroom) voor chips en transistors, waardoor kwaliteitscontrole en prestatieoptimalisatie in O&O en productie mogelijk zijn.

Test van nieuwe energiebatterijen:Evalueren van lithium-ion/zonnebatterij prestatiemeters zoals laad-ontladingscycli, capaciteit en interne weerstand om de ontwikkeling van energieopslagtechnologie te versnellen.

Validering van elektronische componenten:Precise meting van passieve componenten (weerstanden, condensatoren, inductoren) om de naleving van industriële betrouwbaarheidstandaarden te waarborgen.

Academisch onderzoek:Dient als een modulair testplatform voor universiteiten en laboratoria in elektrotechniek en materiaalwetenschappen, waardoor geavanceerde experimenten in MEMS, flexibele elektronica en meer mogelijk worden gemaakt.