![]() |
Merknaam: | PRECISE INSTRUMENT |
Modelnummer: | CS100 |
MOQ: | 1 Eenheid |
Leveringstermijn: | 2-8 weken |
Betalingsvoorwaarden: | T/T |
Single Channel PXI SMU 30V 1A Sub Card DC Source Measurement Unit CS100
De CS100 modulaire subkaart is een hoogwaardige testmodule die is ontworpen voor integratie met modulaire chassissystemen.het biedt efficiënte oplossingen voor complexe testscenario'sAls een kerncomponent van het test-ecosysteem werkt de CS100-subkaart samen met het hoofdchassis om zich aan te passen aan diverse industriële vereisten, van validatie van halfgeleiders tot industriële automatisering.
Productkenmerken
▪Hoogprecisie meting:Bereikt een nauwkeurigheid van 0,1% over volledige meetbereiken.
▪Snelle reactie:1 kS/s bemonsteringssnelheid zorgt voor real-time data-opname en -verwerking.
▪Flexible configuratieNaadloos geïntegreerd met andere subkaarten voor aangepaste testopstellingen.
▪Aanpassing van de trigger:Een flexibele configuratie van de kanaal-triggerbus maakt het mogelijk om verschillende testfuncties te combineren.
▪Eenvoudige integratie:Compact ontwerp compatibel met standaard 19-inch rekken voor een gestroomlijnde implementatie.
Productparameters
Artikel 2 |
Parameters |
Aantal kanalen |
1 kanaal |
Spanningsbereik |
300 mV tot 30 V |
Minimumspanningsoplossing |
30 uV |
Stroombereik |
100nA1A |
Minimale huidige resolutie |
10 pA |
Maximaal uitgangsvermogen voor continue golven (CW) |
30 W, 4-kwadrantbron of sinkmodus |
Stabiel laadvermogen |
< 22 nF |
Breedbandgeluid (20MHz) |
2mV RMS (typische waarde), < 20mV Vp-p (typische waarde) |
Maximaal steekproefpercentage |
1000 S/s |
Meetsnauwkeurigheid van bron |
0.10% |
Hosts die het compatibel is met |
1003C,1010C |
Toepassingen
▪Test van halfgeleiders:Ondersteunt het testen van elektrische parameters (bijv. aanstollingsweerstand, lekstroom) voor chips en transistors, waardoor kwaliteitscontrole en prestatieoptimalisatie in O&O en productie mogelijk zijn.
▪Test van nieuwe energiebatterijen:Evalueren van lithium-ion/zonnebatterij prestatiemeters zoals laad-ontladingscycli, capaciteit en interne weerstand om de ontwikkeling van energieopslagtechnologie te versnellen.
▪Validering van elektronische componenten:Precise meting van passieve componenten (weerstanden, condensatoren, inductoren) om de naleving van industriële betrouwbaarheidstandaarden te waarborgen.
▪Academisch onderzoek:Dient als een modulair testplatform voor universiteiten en laboratoria in elektrotechniek en materiaalwetenschappen, waardoor geavanceerde experimenten in MEMS, flexibele elektronica en meer mogelijk worden gemaakt.
![]() |
Merknaam: | PRECISE INSTRUMENT |
Modelnummer: | CS100 |
MOQ: | 1 Eenheid |
Verpakking: | Doosje. |
Betalingsvoorwaarden: | T/T |
Single Channel PXI SMU 30V 1A Sub Card DC Source Measurement Unit CS100
De CS100 modulaire subkaart is een hoogwaardige testmodule die is ontworpen voor integratie met modulaire chassissystemen.het biedt efficiënte oplossingen voor complexe testscenario'sAls een kerncomponent van het test-ecosysteem werkt de CS100-subkaart samen met het hoofdchassis om zich aan te passen aan diverse industriële vereisten, van validatie van halfgeleiders tot industriële automatisering.
Productkenmerken
▪Hoogprecisie meting:Bereikt een nauwkeurigheid van 0,1% over volledige meetbereiken.
▪Snelle reactie:1 kS/s bemonsteringssnelheid zorgt voor real-time data-opname en -verwerking.
▪Flexible configuratieNaadloos geïntegreerd met andere subkaarten voor aangepaste testopstellingen.
▪Aanpassing van de trigger:Een flexibele configuratie van de kanaal-triggerbus maakt het mogelijk om verschillende testfuncties te combineren.
▪Eenvoudige integratie:Compact ontwerp compatibel met standaard 19-inch rekken voor een gestroomlijnde implementatie.
Productparameters
Artikel 2 |
Parameters |
Aantal kanalen |
1 kanaal |
Spanningsbereik |
300 mV tot 30 V |
Minimumspanningsoplossing |
30 uV |
Stroombereik |
100nA1A |
Minimale huidige resolutie |
10 pA |
Maximaal uitgangsvermogen voor continue golven (CW) |
30 W, 4-kwadrantbron of sinkmodus |
Stabiel laadvermogen |
< 22 nF |
Breedbandgeluid (20MHz) |
2mV RMS (typische waarde), < 20mV Vp-p (typische waarde) |
Maximaal steekproefpercentage |
1000 S/s |
Meetsnauwkeurigheid van bron |
0.10% |
Hosts die het compatibel is met |
1003C,1010C |
Toepassingen
▪Test van halfgeleiders:Ondersteunt het testen van elektrische parameters (bijv. aanstollingsweerstand, lekstroom) voor chips en transistors, waardoor kwaliteitscontrole en prestatieoptimalisatie in O&O en productie mogelijk zijn.
▪Test van nieuwe energiebatterijen:Evalueren van lithium-ion/zonnebatterij prestatiemeters zoals laad-ontladingscycli, capaciteit en interne weerstand om de ontwikkeling van energieopslagtechnologie te versnellen.
▪Validering van elektronische componenten:Precise meting van passieve componenten (weerstanden, condensatoren, inductoren) om de naleving van industriële betrouwbaarheidstandaarden te waarborgen.
▪Academisch onderzoek:Dient als een modulair testplatform voor universiteiten en laboratoria in elektrotechniek en materiaalwetenschappen, waardoor geavanceerde experimenten in MEMS, flexibele elektronica en meer mogelijk worden gemaakt.