logo
Goede prijs.  online

details van de producten

Created with Pixso. Huis Created with Pixso. Producten Created with Pixso.
Testsystemen voor halfgeleiders
Created with Pixso. 10 Hz-1 MHz C-V-testsysteem voor halfgeleiders

10 Hz-1 MHz C-V-testsysteem voor halfgeleiders

Merknaam: PRECISE INSTRUMENT
MOQ: 1 Eenheid
Leveringstermijn: 2-8 weken
Betalingsvoorwaarden: T/T
Gedetailleerde informatie
Plaats van herkomst:
Chinees
Testfrequentie:
10Hz-1MHz
Precisiteit:
±0,01%
Testbereik capaciteit:
0.01pF ¥ 9.9999F
Verpakking Details:
Doosje.
Levering vermogen:
500 SET/MONTH
Markeren:

1MHz halfgeleiderkerntoestel

,

10 Hz halfgeleider-kragtoestel

,

C-V halfgeleiderscharakterisatiesysteem

Productbeschrijving

10 Hz-1 MHz C-V-testsysteem voor halfgeleiders

Capacitance-Voltage (C-V) -meting wordt veel gebruikt om halfgeleiderparameters te karakteriseren, met name in MOS-capacitoren (MOS-CAP's) en MOSFET-structuren.De capaciteit van een metaal-oxide-halfgeleider (MOS) structuur is een functie van de toegepaste spanningDe curve die de capaciteitsvariatie met spanning weergeeft, wordt de C-V-curve (of C-V-kenmerken) genoemd.

·Dikte van de oxidelaag (dox)

·Substraat dopingconcentratie (Nn)

·Densiteit van de mobiele lading in het oxide (Q1)

·Vaste oxideladingsdichtheid (Qfc).

 

Productkenmerken

breed frequentiebereik: 10 Hz ∼1 MHz met continu aanpasbare frequentiepunten.

Hoog nauwkeurigheid en breed dynamisch bereik: 0 V ∼ 3500 V met een nauwkeurigheid van 0,1%.

Ingebouwde CV-test: geïntegreerde geautomatiseerde CV-testsoftware ondersteunt meerdere functies, waaronder C-V (capaciteitspanning), C-T (capaciteit-tijd) en C-F (capaciteit-frequentie).

IV Testcompatibiliteit: meet tegelijkertijd de afbraakkenmerken en het gedrag van de lekstroom.

Real-time curve plotting: een intuïtieve software-interface visualiseert testgegevens en curves voor real-time monitoring.

Hoge schaalbaarheid: Modulair systeemontwerp maakt een flexibele configuratie mogelijk op basis van testbehoeften.


Productparameters

Artikel 2

Parameters

Testfrequentie

10Hz-1MHz

Frequentie-uitgangsnauwkeurigheid

± 0,01%

Basisnauwkeurigheid

± 0,5%

AC-testsignaalniveau

10mV~2Vrms (1m Vrms Resolutie)

DC-testsignaalniveau

10 mV~2 V (1m Vrms Resolution度)

Uitgangsimpedantie

100Ω

Testbereik capaciteit

0.01pF ¥ 9.9999F

VGS Bias Range

0 - ±30V ((Facultatief))

VDS-biasbereik

300 V tot 1200 V

Testparameters

Diode: CJ,IR,VR

MOSFET:Ciss,Coss,Crss,Rg,IDSS,IGSS,BVDSS

IGBT:Cies,Coes,Cres,ICES,IGES,VBRCES

Interface

RS232, LAN

Programma Protocol

SCPI, LabView.

 

Toepassingen

Nanomaterialen: weerstand, dragermobiliteit, dragerconcentratie, Hallspanning

Flexible materialen:Trek-/torsietoets, spanningstijd (V-t), stroomtijd (I-t), weerstandstijd (R-t), weerstand, gevoeligheid, verbindingscapaciteit.

Discrete apparaten:BVDSS,IGSS,IDSS,Vgs ((th),Ciss/Coss/Crss (Input/Output/Reverse).

Fotodetectoren: donkere stroom (ID), verbindingscapaciteit (Ct), omgekeerde breukspanning (VBR), respons (R).

Perovskieten zonnecellen: Open-circuitspanning (VOC), kortsluitstroom (ISC), maximaal vermogen (Pmax), maximaal vermogen (Vmax), maximaal vermogen (Imax), vulfactor (FF), efficiëntie (η),Serieweerstand (Rs), Shunt Resistance (Rsh), Junction Capacity.

LED's/OLED's/QLED':Vorderingsspanning (VF), drempelwaarde (Ith), omgekeerde spanning (VR), omgekeerde stroom (IR), aansluitcapaciteit.



Goede prijs.  online

Details Van De Producten

Created with Pixso. Huis Created with Pixso. Producten Created with Pixso.
Testsystemen voor halfgeleiders
Created with Pixso. 10 Hz-1 MHz C-V-testsysteem voor halfgeleiders

10 Hz-1 MHz C-V-testsysteem voor halfgeleiders

Merknaam: PRECISE INSTRUMENT
MOQ: 1 Eenheid
Verpakking: Doosje.
Betalingsvoorwaarden: T/T
Gedetailleerde informatie
Plaats van herkomst:
Chinees
Merknaam:
PRECISE INSTRUMENT
Testfrequentie:
10Hz-1MHz
Precisiteit:
±0,01%
Testbereik capaciteit:
0.01pF ¥ 9.9999F
Min. bestelaantal:
1 Eenheid
Verpakking Details:
Doosje.
Levertijd:
2-8 weken
Betalingscondities:
T/T
Levering vermogen:
500 SET/MONTH
Markeren:

1MHz halfgeleiderkerntoestel

,

10 Hz halfgeleider-kragtoestel

,

C-V halfgeleiderscharakterisatiesysteem

Productbeschrijving

10 Hz-1 MHz C-V-testsysteem voor halfgeleiders

Capacitance-Voltage (C-V) -meting wordt veel gebruikt om halfgeleiderparameters te karakteriseren, met name in MOS-capacitoren (MOS-CAP's) en MOSFET-structuren.De capaciteit van een metaal-oxide-halfgeleider (MOS) structuur is een functie van de toegepaste spanningDe curve die de capaciteitsvariatie met spanning weergeeft, wordt de C-V-curve (of C-V-kenmerken) genoemd.

·Dikte van de oxidelaag (dox)

·Substraat dopingconcentratie (Nn)

·Densiteit van de mobiele lading in het oxide (Q1)

·Vaste oxideladingsdichtheid (Qfc).

 

Productkenmerken

breed frequentiebereik: 10 Hz ∼1 MHz met continu aanpasbare frequentiepunten.

Hoog nauwkeurigheid en breed dynamisch bereik: 0 V ∼ 3500 V met een nauwkeurigheid van 0,1%.

Ingebouwde CV-test: geïntegreerde geautomatiseerde CV-testsoftware ondersteunt meerdere functies, waaronder C-V (capaciteitspanning), C-T (capaciteit-tijd) en C-F (capaciteit-frequentie).

IV Testcompatibiliteit: meet tegelijkertijd de afbraakkenmerken en het gedrag van de lekstroom.

Real-time curve plotting: een intuïtieve software-interface visualiseert testgegevens en curves voor real-time monitoring.

Hoge schaalbaarheid: Modulair systeemontwerp maakt een flexibele configuratie mogelijk op basis van testbehoeften.


Productparameters

Artikel 2

Parameters

Testfrequentie

10Hz-1MHz

Frequentie-uitgangsnauwkeurigheid

± 0,01%

Basisnauwkeurigheid

± 0,5%

AC-testsignaalniveau

10mV~2Vrms (1m Vrms Resolutie)

DC-testsignaalniveau

10 mV~2 V (1m Vrms Resolution度)

Uitgangsimpedantie

100Ω

Testbereik capaciteit

0.01pF ¥ 9.9999F

VGS Bias Range

0 - ±30V ((Facultatief))

VDS-biasbereik

300 V tot 1200 V

Testparameters

Diode: CJ,IR,VR

MOSFET:Ciss,Coss,Crss,Rg,IDSS,IGSS,BVDSS

IGBT:Cies,Coes,Cres,ICES,IGES,VBRCES

Interface

RS232, LAN

Programma Protocol

SCPI, LabView.

 

Toepassingen

Nanomaterialen: weerstand, dragermobiliteit, dragerconcentratie, Hallspanning

Flexible materialen:Trek-/torsietoets, spanningstijd (V-t), stroomtijd (I-t), weerstandstijd (R-t), weerstand, gevoeligheid, verbindingscapaciteit.

Discrete apparaten:BVDSS,IGSS,IDSS,Vgs ((th),Ciss/Coss/Crss (Input/Output/Reverse).

Fotodetectoren: donkere stroom (ID), verbindingscapaciteit (Ct), omgekeerde breukspanning (VBR), respons (R).

Perovskieten zonnecellen: Open-circuitspanning (VOC), kortsluitstroom (ISC), maximaal vermogen (Pmax), maximaal vermogen (Vmax), maximaal vermogen (Imax), vulfactor (FF), efficiëntie (η),Serieweerstand (Rs), Shunt Resistance (Rsh), Junction Capacity.

LED's/OLED's/QLED':Vorderingsspanning (VF), drempelwaarde (Ith), omgekeerde spanning (VR), omgekeerde stroom (IR), aansluitcapaciteit.