Video kanaal van China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.

Chat Contacteer ons

Huis Video's Speellijst Website

Nederlandse

english français Deutsch Italiano Русский Español português Nederlandse ελληνικά 日本語 한국 polski فارسی বাংলা ไทย tiếng Việt العربية हिन्दी Türkçe bahasa indonesia

Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.

kwaliteit Bronmaatregeleneenheid, Dual-channel bronmeter fabrikant uit China

kwaliteitsleverancier Hoofdproducten

Huis Video's Speellijst Website

Alle video's

00:34

LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem

February 26, 2025
00:24

1000A stroom sensor test systeem CTMS

February 26, 2025
00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders

February 26, 2025
00:36

1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100

February 26, 2025
00:27

2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed

February 26, 2025
00:24

A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid

February 26, 2025
00:24

60A CW/600A QCW High Power Testing Laser stroomvoorziening HCPL060

February 25, 2025
00:24

60A CW/60A QCW High Power Testing Laser voeding HCPL006

February 25, 2025
00:24

20A CW/20A QCW High Power Testing Laser stroomtoevoer HCPL002

February 25, 2025
00:27

8000V/40mA Hoogspanningsbron E800

February 25, 2025
00:24

HCPL030 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test

February 25, 2025
00:24

3500V/100mA Hoogspanningsbron E300

February 25, 2025
00:27

2200V/100mA Hoogspanningsbron E200

February 25, 2025
00:24

1200V/100mA hoogspanningsstroombron voor IGBT-afvalspanningstest

February 25, 2025
00:24

1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test

February 25, 2025
00:24

S300 DC-bronmetingseenheid 300V/1A voor elektrische test

February 24, 2025
00:24

300V/3A Halveringsonderzoek DC-bron Meeteenheid S300B

February 24, 2025
00:24

30V/1A/10A Halfgeleidertest Vier-kwadranten werking Pulsbronmeter P100

February 24, 2025
00:24

100V/1A/10A pulsbronmeter P200 voor de karakterisering van halfgeleiders

February 24, 2025
00:24

300V/1A/10A Halveringsonderzoek Vier-kwadranten werking Pulsbronmeter P300

February 24, 2025
00:24

300V/4A/30A Meeteenheid P300B voor pulsbron voor halfgeleiders en materialen

February 24, 2025
00:24

Hoogstroompulsbronmeeteenheid HCP100 met maximale uitgangsstroom 30A en maximale uitgangsspanning 50V

February 24, 2025
00:25

100V/100A Meereenheid voor het meten van de pulsbron van hoge stroom HCP300 voor IGBT

February 24, 2025
00:24

300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B voor verschillende elektrische testkenmerken

February 24, 2025
00:24

100V/30A Dual Channel Source Meter DP200B voor BJT-test

February 24, 2025
00:24

30V/30A Dual Channel Source Meter DP100B met spannings-/stroommeting en vier kwadrant werking

February 24, 2025
00:26

10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401

February 24, 2025
00:24

10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401

February 24, 2025
00:24

10V/1A Vierkanaal Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI402

February 24, 2025
00:28

18V/1A Vierkanaals Subcard Pulsoorzeemeenheid CBI403

February 24, 2025
00:28

3-slots Subcards Plug-in Source Measure Unit 1003C met industriële betrouwbaarheid en schaalbaarheid

February 24, 2025
00:24

30V/1A enkelkanaalsubkaart DC-bron meetunit CS100

February 24, 2025
00:24

100V/1A enkelkanaalsubkaart DC-bronmetingseenheid CS200

February 24, 2025
00:24

300V/1A enkelkanaalsubkaart DC-bronmeeteenheid CS300

February 24, 2025
00:27

18V/1A Vierkanaals Subkaartbron DC-Maateenheid CS402

February 24, 2025
00:27

10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401

February 24, 2025
00:29

10V/200mA Vierkanaals Subcard Source Meter CS400 voor High-Throughput Testing in parallelle omgevingen

February 24, 2025
00:36

30V/1A Elektrische kenmerken van halfgeleiders Testing DC Source Measure Unit S100

February 24, 2025
01:24

PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie

February 17, 2025