10V 500mA PXI Bron Maateenheid Subkaart Puls PXI SMU Eenheid CBI401

De CBI401 modulaire subkaart is een kerncomponent van de CS-serie precisiedigitaal Source-Measure Units (SMU's), ontworpen voor middel- tot lage vermogen multi-kanaal elektrische karakterisering.Met een vierkantige gemeenschappelijke plattegrondarchitectuur met één kaart, elk kanaal werkt onafhankelijk of synchroon, ideaal voor parallel testen met een hoge dichtheid.het maakt gebruik van een 3Gbps backplane bandbreedte en 16-kanaal trigger bus om high-speed multi-device coördinatie mogelijk te makenGeoptimaliseerd voor geruisarme, hoge stabiliteit batch testen, levert het tot 500mA stroom, 10V spanning, en 5W vermogen per kanaal, het aanpakken van de precisie test behoeften in halfgeleiders, sensoren,en micro-energie-apparaten.

Productkenmerken

▪Een hoog-dichtheid multi-kanaalontwerp:Integreert 4 onafhankelijke kanalen per subkaart voor het testen van parallelle apparaten.

▪ Synchrone operatie:De door de hardware geactiveerde synchronisatie tussen de kanalen zorgt voor een precisie van de timing op μs-niveau.

▪ Precision & Low Noise:00,1% bron/metingsnauwkeurigheid met 51⁄2-cijferige resolutie; stroommeting tot 5μA, spanningsbereik 10mV10V.

▪ Vier-kwadrant operatie:Simulatie van het vermogen van de stroomvoorziening of het gedrag van de elektronische belasting in de afvoer-/verzinkingsstand.

▪ Dual-mode flexibiliteit:Ondersteunt zowel gepulseerde als gelijkstroomtestprotocollen voor dynamische karakterisering.

▪ Scalable architectuur:Naadloze integratie met CS-serie hosts voor systeemuitbreiding tot 40 kanalen.

Productparameters

Toepassingen

▪ Test van de kenmerken van discrete halfgeleiderapparaten,met inbegrip van weerstanden,dioden,lichtdioden,Zenerdioden,PIN-dioden,BJT-transistoren,MOSFET's,SIC,GaN en andere apparaten;

▪ Energie- en efficiënttests,met inbegrip van LED/AMOLED,zonnecellen,DC-DC-omvormers, enz.;

▪ Test van de sensoreigenschappen, met inbegrip van weerstand, Hall-effect, enz.;

▪ Test van de kenmerken van organische materialen,met inbegrip van elektronische inkt,gedrukte elektronische technologie, enz.;

▪ Test van de kenmerken van nanomaterialen, met inbegrip van grafeen, nano draden, enz.