Video kanaal van China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Chat Contacteer ons
Huis Video's Speellijst Website

10V/200mA Vierkanaals Subcard Source Meter CS400 voor High-Throughput Testing in parallelle omgevingen

Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
Category Connection: Meerdere kanalen testapparatuur
Chat Contacteer ons
De introductie van de CS400, een vierkantige subkaartbronmeter met een hoge dichtheid voor tests met een hoge doorlaatkracht in parallelle omgevingen, met een spanningsbereik van ± 10 V, een stroombereik van 5 uA-200 mA,en 1000 S/s maximale bemonsteringssnelheid, met een nauwkeurigheid van 0,10%, ideaal voor het testen van vermogensemiconductoren, discrete apparaten en geïntegreerde schakelingen. Welkom op onze website!
Taggen:
#Smu-eenheid #pxi SMU #PXI Maateenheid
Gerelateerde video's
10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401 00:26

10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401 00:24

10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10V/1A Vierkanaal Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI402 00:24

10V/1A Vierkanaal Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI402
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
3500V/100mA Hoogspanningsbron E300 00:24

3500V/100mA Hoogspanningsbron E300
Hoogspanningsbron
February 25, 2025
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid 00:24

A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid
Gegevensverkrijgingskaart
February 26, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem 00:34

LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test 00:24

1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test
Bronmaatregeleneenheid
February 25, 2025
PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie 01:24

PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie
Andere video's
February 17, 2025
1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100 00:36

1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025