Video kanaal van China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Chat Contacteer ons
Huis Video's Speellijst Website

30V/1A enkelkanaalsubkaart DC-bron meetunit CS100

Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
Category Connection: Meerdere kanalen testapparatuur
Chat Contacteer ons
De introductie van de CS100, een high-performance single-channel subcard DC-bron metingseenheid, met een nauwkeurigheid van 0,1%, 1 kS/s bemonstering snelheid en flexibele configuratie, ideaal voor halfgeleider testen,nieuwe energiebatterijonderzoek, en meer, Welkom op onze website!
Taggen:
#Smu-eenheid #pxi SMU #PXI Maateenheid
Gerelateerde video's
10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401 00:26

10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401 00:24

10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10V/1A Vierkanaal Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI402 00:24

10V/1A Vierkanaal Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI402
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
3500V/100mA Hoogspanningsbron E300 00:24

3500V/100mA Hoogspanningsbron E300
Hoogspanningsbron
February 25, 2025
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid 00:24

A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid
Gegevensverkrijgingskaart
February 26, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem 00:34

LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test 00:24

1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test
Bronmaatregeleneenheid
February 25, 2025
PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie 01:24

PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie
Andere video's
February 17, 2025
1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100 00:36

1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025