Video kanaal van China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Chat Contacteer ons
Huis Video's Speellijst Website

3-slots Subcards Plug-in Source Measure Unit 1003C met industriële betrouwbaarheid en schaalbaarheid

Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
Category Connection: Meerdere kanalen testapparatuur
Chat Contacteer ons
De introductie van de 1003C Source Measure Unit, een professionele testoplossing met industriële betrouwbaarheid en schaalbaarheid, met een 3-slot subcard plug-in-ontwerp, RS-232,GPIB- en Ethernet-interfaces, en AC 100-240V stroomvoorziening, ideaal voor wetenschappelijk onderzoek en industriële validatie scenario's, Welkom op onze website!
Taggen:
#Smu-eenheid #pxi SMU #PXI Maateenheid
Gerelateerde video's
10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401 00:26

10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401 00:24

10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10V/1A Vierkanaal Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI402 00:24

10V/1A Vierkanaal Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI402
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid 00:24

A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid
Gegevensverkrijgingskaart
February 26, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem 00:34

LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test 00:24

1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test
Bronmaatregeleneenheid
February 25, 2025
PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie 01:24

PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie
Andere video's
February 17, 2025
1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100 00:36

1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed 00:27

2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed
Bronmaatregeleneenheid
February 26, 2025