Video kanaal van China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Contacteer ons
Huis Video's Speellijst Website

18V/1A Vierkanaals Subcard Pulsoorzeemeenheid CBI403

Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
Keyword: Meerdere kanalen testapparatuur
Contacteer ons
Taggen:
#Smu-eenheid #pxi SMU #PXI Maateenheid
Video Description:
Discover the 18V 1A Four Channel Sub Card Pulse Source Measure Unit CBI403 SMU Measurement, a high-precision modular solution for electrical characterization. Ideal for semiconductor testing, nanomaterials, and energy efficiency validation, it offers four-quadrant operation and flexible integration with host systems.
Gerelateerde video's
10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401 00:24

10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10V/1A Vierkanaal Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI402 00:24

10V/1A Vierkanaal Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI402
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100 00:36

1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100
Testsystemen voor halfgeleiders
February 25, 2025
1000A stroom sensor test systeem CTMS 00:24

1000A stroom sensor test systeem CTMS
Testsystemen voor halfgeleiders
February 25, 2025
S300 DC-bronmetingseenheid 300V/1A voor elektrische test 00:24

S300 DC-bronmetingseenheid 300V/1A voor elektrische test
Bronmaatregeleneenheid
February 24, 2025
1200V/100mA hoogspanningsstroombron voor IGBT-afvalspanningstest 00:24

1200V/100mA hoogspanningsstroombron voor IGBT-afvalspanningstest
Hoogspanningsbron
February 24, 2025
1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test 00:24

1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test
Bronmaatregeleneenheid
February 24, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 25, 2025
30V/30A Dual Channel Source Meter DP100B met spannings-/stroommeting en vier kwadrant werking 00:24

30V/30A Dual Channel Source Meter DP100B met spannings-/stroommeting en vier kwadrant werking
Dual-channel bronmeter
February 24, 2025
100V/1A/10A pulsbronmeter P200 voor de karakterisering van halfgeleiders 00:24

100V/1A/10A pulsbronmeter P200 voor de karakterisering van halfgeleiders
Bronmaatregeleneenheid
February 24, 2025