Video kanaal van China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Chat Contacteer ons
Huis Video's Speellijst Website

100V/30A Dual Channel Source Meter DP200B voor BJT-test

Dual-channel bronmeter
February 24, 2025
Category Connection: Dual-channel bronmeter
Chat Contacteer ons
De introductie van DP200B, een 100V/30A dual-channel bronmeter voor BJT-test, met vier kwadrantoperaties, 2-kanaal synchrone meting met lage latentie,en snelle generatie van karakteristieke curves voor testdioden, transistors, en meer.Welkom op onze website!
Taggen:
#meters met twee bronnen #SMU-metingseenheid #SMU-eenheid
Gerelateerde video's
300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B voor verschillende elektrische testkenmerken 00:24

300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B voor verschillende elektrische testkenmerken
Dual-channel bronmeter
February 24, 2025
30V/30A Dual Channel Source Meter DP100B met spannings-/stroommeting en vier kwadrant werking 00:24

30V/30A Dual Channel Source Meter DP100B met spannings-/stroommeting en vier kwadrant werking
Dual-channel bronmeter
February 24, 2025
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid 00:24

A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid
Gegevensverkrijgingskaart
February 26, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders 00:30

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem 00:34

LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test 00:24

1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test
Bronmaatregeleneenheid
February 25, 2025
18V/1A Vierkanaals Subcard Pulsoorzeemeenheid CBI403 00:28

18V/1A Vierkanaals Subcard Pulsoorzeemeenheid CBI403
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie 01:24

PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie
Andere video's
February 17, 2025
1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100 00:36

1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed 00:27

2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed
Bronmaatregeleneenheid
February 26, 2025