10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
De introductie van de PMST, een 10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System ontworpen voor nauwkeurige testen van MOSFET, BJT, IGBT en SiC GaN halfgeleiders,met hoogspannings- en hoogstroomkenmerken, nauwkeurige metingen op μΩ-niveau en meetcapaciteiten voor stroom op nA-niveau, met ondersteuning van meetcapaciteitsmetingen van verbindingen en modulaire configuratie voor flexibele testen,Welkom op onze website!
Testsystemen voor halfgeleiders
-
10kV/6000A Power Device Analyzer Statische Test PMST Voor Mosfet BJT IGBT SiC GaN Halve Leider
Contact nu -
1200V/100A Halveringsparameteranalyseur SPA6100 Halveringstestsystemen
Contact nu -
10 Hz-1 MHz C-V-testsysteem voor halfgeleiders
Contact nu -
1000A stroomsensortestsysteem CTMS-testapparatuur voor halfgeleiders
Contact nu -
LDBI-testsystemen voor laserveroudering van halfgeleiders
Contact nu
Gerelateerde video's
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid
Gegevensverkrijgingskaart
February 26, 2025
2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed
Bronmaatregeleneenheid
February 26, 2025
PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie
Andere video's
February 17, 2025
30V/1A/10A Halfgeleidertest Vier-kwadranten werking Pulsbronmeter P100
Bronmaatregeleneenheid
February 24, 2025
100V/100A Meereenheid voor het meten van de pulsbron van hoge stroom HCP300 voor IGBT
Bronmaatregeleneenheid
February 24, 2025
300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B voor verschillende elektrische testkenmerken
Dual-channel bronmeter
February 24, 2025