HCPL030 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test
pulsstroom, 20V@300A en puls ≤ 500 uitgangsladingspanning, pulsbreedte van de stroom 50μs-1ms en stroomstygingstijd van 10μs, ideaal voor het testen van wafers en het testen van de reactietijd van sensoren op hoge stroom,Welkom op onze website!
Hoge stroomvoorziening
-
300A 30V puls stroomvoorziening Hoogstroombron HCPL030 Voor SiC IGBT GaN HEMT-test
Contact nu -
1000A 18V hoogstroom pulsstroombron HCPL100 programmeerbare voeding
Contact nu -
10V 500mA PXI Bron Maateenheid Subkaart Puls PXI SMU Eenheid CBI401
Contact nu -
Pulsbronmeter P300 300V 1A 10A Meereenheid voor het meten van de bron
Contact nu -
30V 4A 30A Pulsbronmetingseenheid P100B Sourcemeter voor halfgeleiders
Contact nu
Gerelateerde video's
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed
Bronmaatregeleneenheid
February 26, 2025
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie
Andere video's
February 17, 2025
1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
30V/1A/10A Halfgeleidertest Vier-kwadranten werking Pulsbronmeter P100
Bronmaatregeleneenheid
February 24, 2025
100V/100A Meereenheid voor het meten van de pulsbron van hoge stroom HCP300 voor IGBT
Bronmaatregeleneenheid
February 24, 2025
300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B voor verschillende elektrische testkenmerken
Dual-channel bronmeter
February 24, 2025