LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
De introductie van het LDBI Multi-Channel High-Power Laser Aging System, ontworpen voor het testen van hoogvermogende halfgeleiderlaserchips op kilowattniveau en pomplasermodules.met een vermogen van niet meer dan 50 W,stabiele stroom, sterke vermogen tegen interferentie en dubbele beschermingscircuits, met 16 onafhankelijke kanalen en een watergekoelde lichtverzamelaar, ideaal voor het testen van halfgeleider-kragtoestellen,materiaalonderzoek en testen van elektronica voor nieuwe energievoertuigenWelkom op onze website!
Testsystemen voor halfgeleiders
-
LDBI-testsystemen voor laserveroudering van halfgeleiders
Contact nu -
1200V/100A Halveringsparameteranalyseur SPA6100 Halveringstestsystemen
Contact nu -
10 Hz-1 MHz C-V-testsysteem voor halfgeleiders
Contact nu -
1000A stroomsensortestsysteem CTMS-testapparatuur voor halfgeleiders
Contact nu -
10kV/6000A Power Device Analyzer Statische Test PMST Voor Mosfet BJT IGBT SiC GaN Halve Leider
Contact nu
Gerelateerde video's
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed
Bronmaatregeleneenheid
February 26, 2025
PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie
Andere video's
February 17, 2025
30V/1A/10A Halfgeleidertest Vier-kwadranten werking Pulsbronmeter P100
Bronmaatregeleneenheid
February 24, 2025
100V/100A Meereenheid voor het meten van de pulsbron van hoge stroom HCP300 voor IGBT
Bronmaatregeleneenheid
February 24, 2025
300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B voor verschillende elektrische testkenmerken
Dual-channel bronmeter
February 24, 2025
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid
Gegevensverkrijgingskaart
February 26, 2025