Video kanaal van China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Chat Contacteer ons
Huis Video's Speellijst Over ons Officiële website
Nederlandse
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

10V/1A Vierkanaal Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI402

Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
Chat
Power per channel, ideaal voor high-volume toepassingen zoals power device validation en multi-probe wafer testing, Welcome to visit our website!
Meerdere kanalen testapparatuur
Gerelateerde video's
10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401 00:26
10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401

10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401 00:24
10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401

10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed 00:27
2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed

2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed
Bronmaatregeleneenheid
February 26, 2025
3500V/100mA Hoogspanningsbron E300 00:24
3500V/100mA Hoogspanningsbron E300

3500V/100mA Hoogspanningsbron E300
Hoogspanningsbron
February 25, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders 00:30
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders

10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid 00:24
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid

A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid
Gegevensverkrijgingskaart
February 26, 2025
S300 DC-bronmetingseenheid 300V/1A voor elektrische test 00:24
S300 DC-bronmetingseenheid 300V/1A voor elektrische test

S300 DC-bronmetingseenheid 300V/1A voor elektrische test
Bronmaatregeleneenheid
February 24, 2025
1000A stroom sensor test systeem CTMS 00:24
1000A stroom sensor test systeem CTMS

1000A stroom sensor test systeem CTMS
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
HCPL030 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test 00:24
HCPL030 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test

HCPL030 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test
Hoge stroomvoorziening
February 25, 2025
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem 00:34
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem

LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025