100V/30A Dual Channel Source Meter DP200B voor BJT-test
De introductie van DP200B, een 100V/30A dual-channel bronmeter voor BJT-test, met vier kwadrantoperaties, 2-kanaal synchrone meting met lage latentie,en snelle generatie van karakteristieke curves voor testdioden, transistors, en meer.Welkom op onze website!
Dual-channel bronmeter
-
100V 30A Dual Channel Source Meter DP200B Source Measurement Unit Voor BJT-test
Contact nu -
30V 30A Dual Channel Source Meter Eenheid DP100B Met Spanning / Stroommeting
Contact nu -
300V 30A Dual Source Meter Unit DP300B SMU Meting voor elektrische test
Contact nu -
10V 500mA PXI Bron Maateenheid Subkaart Puls PXI SMU Eenheid CBI401
Contact nu -
Pulsbronmeter P300 300V 1A 10A Meereenheid voor het meten van de bron
Contact nu
Gerelateerde video's
300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B voor verschillende elektrische testkenmerken
Dual-channel bronmeter
February 24, 2025
30V/30A Dual Channel Source Meter DP100B met spannings-/stroommeting en vier kwadrant werking
Dual-channel bronmeter
February 24, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid
Gegevensverkrijgingskaart
February 26, 2025
2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed
Bronmaatregeleneenheid
February 26, 2025
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie
Andere video's
February 17, 2025