10V/200mA Vierkanaals Subcard Source Meter CS400 voor High-Throughput Testing in parallelle omgevingen
De introductie van de CS400, een vierkantige subkaartbronmeter met een hoge dichtheid voor tests met een hoge doorlaatkracht in parallelle omgevingen, met een spanningsbereik van ± 10 V, een stroombereik van 5 uA-200 mA,en 1000 S/s maximale bemonsteringssnelheid, met een nauwkeurigheid van 0,10%, ideaal voor het testen van vermogensemiconductoren, discrete apparaten en geïntegreerde schakelingen. Welkom op onze website!
Meerdere kanalen testapparatuur
-
Subkaart PXI SMU-eenheid 10V 200mA voor tests met een hoge doorvoer in parallelle omgevingen
Contact nu -
10V 500mA PXI Bron Maateenheid Subkaart Puls PXI SMU Eenheid CBI401
Contact nu -
18V 1A Vierkanaals Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI403 SMU Maat
Contact nu -
10V 1A PXI SMU 4 Channel Sub Card Pulse SMU Bron Maateenheid CBI402
Contact nu -
18V 1A PXI SMU Vierkanaal Subkaart DC Bronmeter Eenheid CS402
Contact nu
Gerelateerde video's
10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10V/1A Vierkanaal Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI402
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid
Gegevensverkrijgingskaart
February 26, 2025
2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed
Bronmaatregeleneenheid
February 26, 2025
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025