18V/1A Vierkanaals Subcard Pulsoorzeemeenheid CBI403
Met de introductie van de CBI403, een hoog-precisie vier-kanaal subcard pulsbron metingseenheid ontworpen voor geavanceerde elektrische karakterisering, biedt 0,1% nauwkeurigheid en 51⁄2-cijferige resolutie,met vier-kwadranten werking, dubbele testmodi en hoge kanaaldensiteit, ideaal voor validatie op halfgeleiderwaferniveau en parallel stresstest met meerdere apparaten, Welkom op onze website!
Meerdere kanalen testapparatuur
-
18V 1A Vierkanaals Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI403 SMU Maat
Contact nu -
10V 500mA PXI Bron Maateenheid Subkaart Puls PXI SMU Eenheid CBI401
Contact nu -
10V 1A PXI SMU 4 Channel Sub Card Pulse SMU Bron Maateenheid CBI402
Contact nu -
18V 1A PXI SMU Vierkanaal Subkaart DC Bronmeter Eenheid CS402
Contact nu -
Subkaart PXI SMU-eenheid 10V 200mA voor tests met een hoge doorvoer in parallelle omgevingen
Contact nu
Gerelateerde video's
10V/500mA Vierkanaal Subkaart DC-bron Maateenheid CS401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10V/500mA Vierkanaal Subcard Pulsbron Maateenheid CBI401
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10V/1A Vierkanaal Subkaart Pulsbron Maateenheid CBI402
Meerdere kanalen testapparatuur
February 24, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid
Gegevensverkrijgingskaart
February 26, 2025
2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed
Bronmaatregeleneenheid
February 26, 2025
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025