300V/3A Halveringsonderzoek DC-bron Meeteenheid S300B
, 0,1%/0,03% nauwkeurigheid, en 32000S/s bemonsteringssnelheid, ideaal voor halfgeleider testen, geavanceerd materiaalonderzoek, en meer. Welkom op onze website!
Bronmaatregeleneenheid
-
Meereenheid voor het meten van een halfgeleiderprecisiebron S300B 300V 3A gelijkstroombronmeter
Contact nu -
Pulsbronmeter P300 300V 1A 10A Meereenheid voor het meten van de bron
Contact nu -
30V 4A 30A Pulsbronmetingseenheid P100B Sourcemeter voor halfgeleiders
Contact nu -
Halvegeleiders Maatstaf van de bron 100V 1A 10A Impulsmeter van de bron P200
Contact nu -
30V 1A 10A P100 Sourcemeter Vier Kwadrant Operatie Pulsbronmeter
Contact nu
Gerelateerde video's
2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed
Bronmaatregeleneenheid
February 26, 2025
1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test
Bronmaatregeleneenheid
February 25, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid
Gegevensverkrijgingskaart
February 26, 2025
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie
Andere video's
February 17, 2025
1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025