1000A/18V hoogstroompulsstroomvoorziening HCPL100 voor SiC/IGBT/GaN HEMT-test
stroom, 15μs steile pulsrandjes, en twee-kanaal pulsspanningsmeting, ideaal voor het testen van Schottky diodes, IGBT-apparaten, en meer, Welkom op onze website!
Bronmaatregeleneenheid
-
1000A 18V hoogstroom pulsstroombron HCPL100 programmeerbare voeding
Contact nu -
300A 30V puls stroomvoorziening Hoogstroombron HCPL030 Voor SiC IGBT GaN HEMT-test
Contact nu -
10V 500mA PXI Bron Maateenheid Subkaart Puls PXI SMU Eenheid CBI401
Contact nu -
Pulsbronmeter P300 300V 1A 10A Meereenheid voor het meten van de bron
Contact nu -
30V 4A 30A Pulsbronmetingseenheid P100B Sourcemeter voor halfgeleiders
Contact nu
Gerelateerde video's
2 ms/s Meerkanaals gegevensverwervingskaart A400B High Speed
Bronmaatregeleneenheid
February 26, 2025
10kV/6000A Power Device Analyzer Static Test System PMST voor MOSFET BJT IGBT en SiC GaN halfgeleiders
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
A400 Data Acquisition Card met 16-bits ADC-resolutie en 1 ms/s steekproefsnelheid
Gegevensverkrijgingskaart
February 26, 2025
LDBI multi-channel hoogkrachtige laserverouderingssysteem
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
PRECISE Instrument Source of Exploration Interne en externe consistentie
Andere video's
February 17, 2025
1200V/100A halfgeleiderparameteranalyseerder SPA6100
Testsystemen voor halfgeleiders
February 26, 2025
300V/30A Dual Channel Source Meter DP300B voor verschillende elektrische testkenmerken
Dual-channel bronmeter
February 24, 2025